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UNIT
Analyse de Fourier fractionnaire pour la description d'impulsions lumineuses. (Optique Pour l'Ingénieur : Métrologie optique)
Description
:
Dans ce chapitre sont présentés le potentiel de l'analyse de Fourier fractionnaire pour la description de la propagation d'impulsions lumineuses dans des milieux dispersifs et la caractérisation d'impulsions lumineuses ultra- courtes.
Date
:
05-10-2007
Description complète
Analyse de Fourier fractionnaire pour la description d'impulsions lumineuses. (Optique Pour l'Ingénieur : Métrologie optique)
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UNIT
Applications spécifiques des capteurs pour la photonique et l'imagerie. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
Description
:
Lorsqu'un objet est placé dans le faisceau d'une diode Laser, une partie du faisceau réfléchi par ce dernier est rétro-injecté dans la cavité active de la diode et en perturbe les propriétés physiques. Cette perturbation qui se traduit principalement par une modification de la fréquence et de la pui ...
Date
:
15-10-2007
Description complète
Applications spécifiques des capteurs pour la photonique et l'imagerie. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
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Calibrage géométrique d'une caméra ou d'un capteur de vision stéréoscopique. (Optique Pour l'Ingénieur : Imagerie)
Description
:
Le calibrage géométrique d'une caméra consiste à déterminer la relation mathématique existant entre les coordonnées des points 3D de la scène observée et les coordonnées 2D de leur projection dans l'image (points-image). Cette étape de calibrage constitue le point initial pour plusieurs applications ...
Date
:
15-11-2010
Description complète
Calibrage géométrique d'une caméra ou d'un capteur de vision stéréoscopique. (Optique Pour l'Ingénieur : Imagerie)
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Capteurs à fibres optiques. (Optique Pour l'Ingénieur : Optique guidée et fibres optiques)
Description
:
Ce grain présente les trois grandes familles de capteur à fibre optique qui sont : la modulation d'intensité, la modulation de phase et la modulation de polarisation. Nous détaillons chacune de ces familles dans une section. Nous revenons notamment sur les aspects théoriques et les configurations pr ...
Date
:
16-10-2007
Description complète
Capteurs à fibres optiques. (Optique Pour l'Ingénieur : Optique guidée et fibres optiques)
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Canal-u.fr
Chef d'Entreprise - AlyXan
Description
:
Michel Heningert, chef d'entreprise dans le domaine de l'analyse d'éléments à faible concentraton dans l'environnement, présente le quotidien de son métier et ses perspectives d'évolution
Date
:
11-06-2010
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Chef d'Entreprise - AlyXan
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Conception de capteurs optroniques. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
Description
:
Ce grain a pour objet de donner les éléments de base en conception de capteurs optroniques. On rappelle d'abord les principales applications de l'optronique, les étapes à suivre pour concevoir de tels systèmes, et les grandes familles de capteurs. On décrit ensuite les notions les plus utiles en rad ...
Date
:
01-04-2007
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Conception de capteurs optroniques. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
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Fractional Fourier analyses to describe light pulses. (Optique Pour l'Ingénieur : Métrologie optique)
Description
:
Dans ce chapitre sont présentés le potentiel de l'analyse de Fourier fractionnaire pour la description de la propagation d'impulsions lumineuses dans des milieux dispersifs et la caractérisation d'impulsions lumineuses ultra- courtes.
Date
:
05-10-2007
Description complète
Fractional Fourier analyses to describe light pulses. (Optique Pour l'Ingénieur : Métrologie optique)
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Fundamentals of Semiconductor physics. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
Description
:
In the first part of this course, simple models for intrinsic and doped semiconductors are presented. These models describe the evolution of electronic populations, and serve as a basis for understanding semiconductor-based electronic devices. In a second part, the PN junction, made of two pieces of ...
Date
:
04-03-2010
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Fundamentals of Semiconductor physics. (Optique Pour l'Ingénieur : Capteurs à semi-conducteurs et applications)
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Geometric calibration of a camera or a stereoscopic vision sensor. (Optique Pour l'Ingénieur : Imagerie)
Description
:
The geometric calibration of a camera consists in determining the existing mathematical relation between the coordinates of the 3D points of the scene observed and the 2D coordinates of their projection in the image (image-points). This step of calibration represents the initial point for several ap ...
Date
:
15-11-2010
Description complète
Geometric calibration of a camera or a stereoscopic vision sensor. (Optique Pour l'Ingénieur : Imagerie)
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L'analyse multivariables pour l'instrumentation
Description
:
L'analyse multivariable est un outil mathématique très utilisé, notamment en instrumentation. Cet outil a d'abord été développé pour la chimiométrie (analyse chimique par l'exploitation de spectres) mais est utilisable (et de plus en plus utilisé) d'une façon générale lorsque de nombreuse variables ...
Date
:
26-01-2009
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L'analyse multivariables pour l'instrumentation
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Mesures de vitesse et déplacements par interférométrie hétérodyne. (Optique Pour l'Ingénieur : Interférences et Diffraction)
Description
:
Le cours traite des instruments de mesures de déplacements ou de vitesses par interférométrie hétérodyne. Il fait suite au cours présentant les mesures de déplacements ou de vitesses par interférométrie homodyne. Les instruments concernés sont : les vibromètres laser industriels, les lasers de pours ...
Date
:
05-03-2010
Description complète
Mesures de vitesse et déplacements par interférométrie hétérodyne. (Optique Pour l'Ingénieur : Interférences et Diffraction)
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Mesures de vitesse et déplacements par interférométrie homodyne. (Optique Pour l'Ingénieur : Interférences et Diffraction)
Description
:
Le cours traite des instruments de mesures de déplacement ou de vitesse par méthode interférométrique. Les instruments concernés sont : les vibromètres laser, les lasers de poursuite, l'instrumentation d'Anémométrie Laser Doppler (ALD). Les dispositifs de mesure reposant sur le « self-mixing » ou le ...
Date
:
01-04-2007
Description complète
Mesures de vitesse et déplacements par interférométrie homodyne. (Optique Pour l'Ingénieur : Interférences et Diffraction)
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